阿v天堂2018v詳情
  • 阿v天堂2018v名稱:國産順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808

  • 阿v天堂2018v型號:
  • 阿v天堂2018v廠商:NCS
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簡單介紹:
國産順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808是针对金属、建材、地质、环境、矿产等领域对无机元素分析技术的需求,研制的具有元素范围广(B-U)、動態範圍寬(ppm-100%)、检出下限低、精度高、速度快等诸多优点X射線熒光光谱仪。國産順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808達到《JJG 810-1993波長色散X射線熒光光谱仪检定规程》A級要求,适用于地质、建材、新材料、生态环境等诸多领域。
詳情介紹:

國産順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808儀器簡介:

X射線熒光(XRF)技術是當今*主要的分析測試技術之一,具有元素範圍廣(B-U)、動態範圍寬(ppm-100%)、檢出下限低、精度高、速度快、自動化、無損測試、制樣簡單、多元素同時測定等諸多優點,與ICP-AESICP-MS並稱無機多元素測試技術領域的三大支柱。

在科技部國家重大科學儀器專項(2012YQ050076)的支持下,針對金屬、建材、地質、環境、礦産等領域對無機元素分析技術的需求,廠家先後攻克了X射線源、分光光路系統、探測器等關鍵技術,成功研制了順序式波長色散X射線熒光光谱仪——CNX-808

基于國産順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808,納克與國家地質實驗測試中心等多家權威測試機構合作,開發了適合各阿v天堂2018v的分析測試方法,建立了針對金屬、地質、建材、環境、礦物等領域多種類型樣品的方法體系。

國産順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808應用領域:

地質樣品領域:

CNX-808針對地質領域壓片和熔片兩類樣品分別開發了應用方法體系,可以爲地質研究、找礦提供可靠的檢測數據。

建材樣品領域:

國産順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808針對多種建材樣品的分析需求,建立了水泥、塗料等樣品應用方法體系,實現對樣品的高精度分析。

新材料樣品領域:

CNX-808能夠解決新材料研究領域寬幅、無損、全元素分布分析的難題。

生態環境領域:

CNX-808針對生態環境中的土壤、植物、水系沈積物、空氣顆粒物等樣品的分析需求,建立了整體的解決方案。通過研究不同時期形成的土壤層、沈積層中的有害重金屬元素含量分布特征,爲環境評價提供可靠的指標參數。

國産順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808儀器特點:

高穩定高精度X射線源:

4kW大功率高壓發生器,保證更低的檢測下限和更快的分析速度;優化的功率自動調節程序,能夠快速調整功率,監控X射線管狀態,提高使用壽命;一體化冷卻水機,提供對X射線管更可靠的保護。

優良的光路設計:

光程短,有利于獲得更大的計數率。提供*多10組濾光片、10組光闌、4組初級准直器、10組分光晶體的配置。

波譜能譜複合功能(選配)

波譜能譜複合可以提高數據質量和檢測速度,選配的SDD探測器,提供更加靈活的分析手段,兩種功能深度複合。分布分析時,可以根據實際需求,任選一種探測器。

可靠的高精度測角儀:

θ/2θ單獨驅動,測角儀采用成熟可靠的傳動和反饋技術,在保證性能優異的同時,具有可靠性高、使用壽命長等特點。

便捷強大的分析測試軟件:

界面友好,操作便捷,內置多種算法,全自動化測試過程,滿足定量定性分析需要。

國産順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808儀器參數:

波長色散X射線熒光光谱仪指标

硬件配置

高壓發生器

*大電壓:60kV

*大電流:150mA

*大功率:4kW

長期穩定度:0.01%

X射線管

端窗

可選靶材:RhCuMoWCrPt

铍窗厚度:75μm/50μm可選

自動進樣器

1/48位可選,机械手自动进样系统

樣品尺寸

固體,*大φ50mm*H30mm

樣品台

極坐標定位、帶自旋功能

初級濾光片

TiZrCuAl等多種材质和厚度可選,*多可配10

光闌

φ35,30,25,20,10,3,1,0.5mm及衰減器

初級准直器

1503005007503000μm可選,做多可配4

測角儀

θ-2θ獨立驅動

掃描範圍:SC1-118°)、PC10-148°)

步進角度:0.001°、0.002°、0.005°、0.01°、0.02°、0.05°、0.1°

角度重複性:±0.0005°

角度精度:±0.0005°

分光晶體

10位晶體交換器,liF200LiF220PETGe、多层膜晶体等可選

探測器

閃爍體計數器(SC)、正比式流氣計數器(F-PC

恒溫器

36.5±0.1

真空系統

分析室和進樣室雙真空

選配件

分析室充He氣系統(分析液體樣品的氣氛)

能谱探測器SDD,可與波譜複合使用,提高檢測效率

樣品CCD照相系統,配合分布分析使用

儀器指標

達到《JJG 810-1993 波長色散X射線熒光光谱仪检定规程》A

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